Исследователи из Корнеллского университета совместно с TSMC и ASM разработали высокоточный метод просвечивающей электронной микроскопии, позволяющий получать трёхмерные изображения атомной структуры внутри каналов транзисторов. Впервые удалось напрямую увидеть мельчайшие дефекты
Tag "электронная микроскопия"
Группа исследователей из Токийского университета совершила прорыв в области твердооксидных топливных элементов (SOFC), впервые напрямую наблюдая слои пространственного заряда внутри твёрдого электролита. Это открытие может привести к значительному улучшению характеристик
