На Петербургском международном экономическом форуме (ПМЭФ) был представлен первый отечественный комплекс для тестирования безопасности микросхем с помощью лазера. Разработка, получившая название LFI-26 (Laser Fault Injection), создана в Positive Technologies.

Изображение сгенерировано нейросетью Midjourney

Как подчеркнули в компании, до этого в России такие устройства не производились и организации были вынуждены закупать подобное оборудование у зарубежных поставщиков, таких как французская ALPhANOV и нидерландская Riscure.

Как пояснили создатели, комплекс позволяет вносить «управляемые сбои» в работу чипов с помощью сфокусированного лазерного излучения. Эта технология даёт возможность получить полный контроль над устройством и данными, что позволяет выявлять уязвимости в защите.

Руководитель R&D Центра Positive Labs Алексей Усанов заявил:

Проектирование и производство собственного лазерного комплекса LFI-26 было необходимым шагом, чтобы сохранить и развивать компетенции в области аппаратной безопасности в условиях, когда западные вендоры ушли с рынка. Без подобного оборудования невозможно ни полноценно анализировать безопасность иностранных чипов, ни подтверждать качество защиты отечественной элементной базы.

Сфера применения LFI-26 охватывает широкий спектр устройств: от банковских карт и криптокошельков до iPhone, блоков управления в автомобилях и даже орбитальных спутников.

Новый комплекс стал частью линейки оборудования для исследований безопасности микроэлектроники, в которую также входят системы для электромагнитного воздействия (EMFI-26) и анализа побочных каналов (EMSCA-26).